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VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures
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作者: （EDT）
出版社: Elsevier Science Ltd
2006-07
ISBN: 9780123705976
定价: 620.00
装帧: 其他
开本: 其他
页数: 808页
分类: 外文古旧书>英文书>计算机与互联网
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    This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.                                      

    · Most up-to-date coverage of design for testability.  · Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books.  · Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. · Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. · Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.
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    This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.                                      

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