FPGA芯片设计与测试技术研究
出版时间:
2022-02
版次:
1
ISBN:
9787567238992
定价:
59.00
装帧:
平装
开本:
16开
纸张:
胶版纸
页数:
196页
字数:
206.000千字
正文语种:
简体中文
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《FPGA芯片设计与测试技术研究》围绕基于SRAM的FPGA，针对岛状的架构，对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计，并设计了可扩展的FPGA配置电路及可靠全局信号网络，同时对FPGA进行了抗辐照改进设计。封测结果表明，改进的设计具有较好的抗干扰性能及较高的抗辐照特性，以上结果应用到了规模为6000门、20万门、30万门、60万门、100万门等多个FPGA设计中。 第1章 绪论
1．1 研究背景
1．1．1 FPGA分类及特点
1．1．2 FPGA国内外发展概况
1．2 FPGA研究的目标和意义
1．3 本书主要工作
第2章 CLB、IOB及布线设计
2．1 可编程逻辑块设计
2．1．1 FPGA高性能查找表的设计与实现
2．1．2 CLB算术逻辑及快速进位链的设计
2．2 输入输出接口设计
2．2．1 I/O接口简介
2．2．2 可编程I/O接口的原理与设计
2．3 布线结构设计和层构扩展技术
2．3．1 布线结构概述
2．3．2 布线结构设计
2．3．3 层构设计
2．3．4 层构中的开关设计
2．3．5 层构的拼接与互联
2．4 本章小结
第3章 FPGA的配置电路设计
3．1 基于JTAG的FPGA配置电路
3．1．1 基于JTAG的配置过程
3．1．2 配置控制结构
3．1．3 CRC校验模块
3．1．4 设计验证与物理实现
3．2 易扩展配置电路的设计
3．2．1 FPGA启动过程
3．2．2 配置电路设计
3．3 本章小结
第4章 全局信号网络的设计
4．1 FPGA配置单元抗干扰维持电路设计实现
4．1．1 FPGA配置单元设计和噪声容限仿真
4．1．2 抗干扰低压维持结构原理
4．1．3 设计与实现
4．1．4 物理实现
4．1．5 实验结果
4．2 FPGA时钟分配网络设计技术
4．2．1 FPGA的时钟布线结构
4．2．2 利用锁相环的时钟分配结构
4．3 本章小结
……
第5章 FPGA的抗辐照加固设计
第6章 FPGA的测试
第7章 FPGA芯片特性
第8章 结束语
参考文献
附录
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内容简介:
《FPGA芯片设计与测试技术研究》围绕基于SRAM的FPGA，针对岛状的架构，对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计，并设计了可扩展的FPGA配置电路及可靠全局信号网络，同时对FPGA进行了抗辐照改进设计。封测结果表明，改进的设计具有较好的抗干扰性能及较高的抗辐照特性，以上结果应用到了规模为6000门、20万门、30万门、60万门、100万门等多个FPGA设计中。
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目录:
第1章 绪论
1．1 研究背景
1．1．1 FPGA分类及特点
1．1．2 FPGA国内外发展概况
1．2 FPGA研究的目标和意义
1．3 本书主要工作
第2章 CLB、IOB及布线设计
2．1 可编程逻辑块设计
2．1．1 FPGA高性能查找表的设计与实现
2．1．2 CLB算术逻辑及快速进位链的设计
2．2 输入输出接口设计
2．2．1 I/O接口简介
2．2．2 可编程I/O接口的原理与设计
2．3 布线结构设计和层构扩展技术
2．3．1 布线结构概述
2．3．2 布线结构设计
2．3．3 层构设计
2．3．4 层构中的开关设计
2．3．5 层构的拼接与互联
2．4 本章小结
第3章 FPGA的配置电路设计
3．1 基于JTAG的FPGA配置电路
3．1．1 基于JTAG的配置过程
3．1．2 配置控制结构
3．1．3 CRC校验模块
3．1．4 设计验证与物理实现
3．2 易扩展配置电路的设计
3．2．1 FPGA启动过程
3．2．2 配置电路设计
3．3 本章小结
第4章 全局信号网络的设计
4．1 FPGA配置单元抗干扰维持电路设计实现
4．1．1 FPGA配置单元设计和噪声容限仿真
4．1．2 抗干扰低压维持结构原理
4．1．3 设计与实现
4．1．4 物理实现
4．1．5 实验结果
4．2 FPGA时钟分配网络设计技术
4．2．1 FPGA的时钟布线结构
4．2．2 利用锁相环的时钟分配结构
4．3 本章小结
……
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第6章 FPGA的测试
第7章 FPGA芯片特性
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