普适弛豫定律(影印版)

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作者: [英]
2008-02
版次: 1
ISBN: 9787560527079
定价: 55.00
装帧: 平装
开本: 16开
纸张: 胶版纸
页数: 415页
字数: 438千字
正文语种: 英语
分类: 自然科学
  •   本书是作者所著《固体中的介电弛豫》一书的姊妹篇,其内容是前作的延续和深化,被电介质领域的许多研究者奉为经典。作者在对普适介电弛豫进行系统描述的基础上,将其概念外推到其他传统电介质研究不涉及的弛豫过程中。书中介绍了“普适性”的含义、“平坦”的介电响应和低频介电弥散现象,讨论了半导体中的介电响应,以及发光、化学反应和力学弛豫等非介电过程的弛豫现象,并从理论角度对上述实验现象进行了解释。
      本书可作为物理、电子、材料、电气等相关专业的教师、研究生和科研人员的参考书。   A.K.琼克(A.K.Jonscher,1922-2005),生于波兰华沙,1949年在伦敦大学玛丽皇后学院以一级荣誉学士学位毕业,并在该校HarryTropper教授的指导下于1952年获得博士学位,1951年起在GEC研究实验室工作,从事半导体器件物理原理方面的研究工作,1962年以Reader身份加入伦敦大学切尔西学院,1965年成为固态电子学教授,1987年成为伦敦大学皇家霍洛威与贝德福德斯学院荣誉教授,1990年受邀为IEEE“普适介电晌应”杰出怀特海荣誉讲席。琼克教授在介电弛豫研究方面具有很深的造诣,他于1983年和1996年分别出版的分别出版的学术专著《固体中的介电弛豫》和《普适弛豫定律》,在国际学术界享有盛誉。
      姚熹,1935年生于中国江苏苏州。1957年毕业于交通大学电机系,1982年获美国宾夕法尼亚州立大学固态科学博士学位。
      1957年至今在西安交通大学任教,1984年起任西安交通大学教授。1989年当选国际陶瓷科学院首批院士。1991年当选中国科学院院士。2002年当选美国陶瓷学会会士。2007年因“在电子陶瓷科学和工程创新方面做出了杰出贡献”当选美国国家工程院外籍院士。 Preface
    Acknowledgements
    UsefulPhysicalConstants
    Chapter1THEMEANINGOFUNIVERSALITY
    1.1Thelasttwelveyears
    1.2Basicdefinitions
    1.3Empiricalresponsefunctions
    1.4Calculationoftotalpolarisation
    1.5Thenatureofuniversality
    1.6Negativecapacitance
    1.7Recoveryoffieldonopen-circuitBasicequations:
    1.8Energylossinthetimedomain
    1.9Concludingcomments
    Appendix1.1IntegrationinLogarithmicCoordinates
    Appendix1.2Valuesofnandcot(nπ/2)
    Referencestochapter1
    Chapter2DIELECTTRICRESPONSEOFSEMICONDUCTORS
    2.1Delayedelectronictransitions
    2.2Asimplebarriermodel
    2.3ResponseofSchottkydiodes
    Adventitiousbarriersonsemi-insulatingmaterial
    2.5Responseofp-njunctions
    High-purityp-njunctions
    Junctionswithdeeplevels
    HeavilydopedZenerdiodes
    Conclusionsregardingspacechargeregionresponses
    2.5Junctiondiffusioncapacitance
    a)Low-frequencyresponse
    b)High-frequencyresponse
    2.6Volumetrapping-detrapping
    2.7Hoppingconduction
    Electronicprocesses
    Semi-insulatingGaAs
    IonicTransport
    2.8Concludingcomments
    ReferencestoChapter2
    Chapter3LUMINESCENCEANDPHOTOCONDUCTIVITY
    3.1Therelevanceofthesubject
    3.2Idealisedlightemissionrates
    3.3Analyticalformulation
    Thelimitofrapidtrapping
    3.4Reviewofluminescencedata
    Exponentialdecays
    Simplepowerlawdecays
    Morecomplexbehaviours
    3.5Conclusionsfromluminescence
    3.6PhotoconductivityintheF-D
    Principlesofphotoconductivebehaviour
    Analyticalformulation
    3.7Conclusions
    ReferencestoChapter3
    Chapter4"FLAS"DIELECTRICRESPONSE
    Chapter5LOW-FREQUENCYDISPERSION
    Chapter6DCANDACCONDUCTIVITY
    Chapter7CHEMICALREACTIONDINETICS
    Chapter8THERMALLYSTIMULATEDDEPOLARISATION
    Chapter9MECHANICALrELAXATION
    Chapter10MEASUREMENTANDPRESENTATIONOFDATA
    Chapter11THEORETICALINTERPRETATIONS
    Chapter12THEENERGYCRITERION
    AuthorIndex
    SubjectIndex

  • 内容简介:
      本书是作者所著《固体中的介电弛豫》一书的姊妹篇,其内容是前作的延续和深化,被电介质领域的许多研究者奉为经典。作者在对普适介电弛豫进行系统描述的基础上,将其概念外推到其他传统电介质研究不涉及的弛豫过程中。书中介绍了“普适性”的含义、“平坦”的介电响应和低频介电弥散现象,讨论了半导体中的介电响应,以及发光、化学反应和力学弛豫等非介电过程的弛豫现象,并从理论角度对上述实验现象进行了解释。
      本书可作为物理、电子、材料、电气等相关专业的教师、研究生和科研人员的参考书。
  • 作者简介:
      A.K.琼克(A.K.Jonscher,1922-2005),生于波兰华沙,1949年在伦敦大学玛丽皇后学院以一级荣誉学士学位毕业,并在该校HarryTropper教授的指导下于1952年获得博士学位,1951年起在GEC研究实验室工作,从事半导体器件物理原理方面的研究工作,1962年以Reader身份加入伦敦大学切尔西学院,1965年成为固态电子学教授,1987年成为伦敦大学皇家霍洛威与贝德福德斯学院荣誉教授,1990年受邀为IEEE“普适介电晌应”杰出怀特海荣誉讲席。琼克教授在介电弛豫研究方面具有很深的造诣,他于1983年和1996年分别出版的分别出版的学术专著《固体中的介电弛豫》和《普适弛豫定律》,在国际学术界享有盛誉。
      姚熹,1935年生于中国江苏苏州。1957年毕业于交通大学电机系,1982年获美国宾夕法尼亚州立大学固态科学博士学位。
      1957年至今在西安交通大学任教,1984年起任西安交通大学教授。1989年当选国际陶瓷科学院首批院士。1991年当选中国科学院院士。2002年当选美国陶瓷学会会士。2007年因“在电子陶瓷科学和工程创新方面做出了杰出贡献”当选美国国家工程院外籍院士。
  • 目录:
    Preface
    Acknowledgements
    UsefulPhysicalConstants
    Chapter1THEMEANINGOFUNIVERSALITY
    1.1Thelasttwelveyears
    1.2Basicdefinitions
    1.3Empiricalresponsefunctions
    1.4Calculationoftotalpolarisation
    1.5Thenatureofuniversality
    1.6Negativecapacitance
    1.7Recoveryoffieldonopen-circuitBasicequations:
    1.8Energylossinthetimedomain
    1.9Concludingcomments
    Appendix1.1IntegrationinLogarithmicCoordinates
    Appendix1.2Valuesofnandcot(nπ/2)
    Referencestochapter1
    Chapter2DIELECTTRICRESPONSEOFSEMICONDUCTORS
    2.1Delayedelectronictransitions
    2.2Asimplebarriermodel
    2.3ResponseofSchottkydiodes
    Adventitiousbarriersonsemi-insulatingmaterial
    2.5Responseofp-njunctions
    High-purityp-njunctions
    Junctionswithdeeplevels
    HeavilydopedZenerdiodes
    Conclusionsregardingspacechargeregionresponses
    2.5Junctiondiffusioncapacitance
    a)Low-frequencyresponse
    b)High-frequencyresponse
    2.6Volumetrapping-detrapping
    2.7Hoppingconduction
    Electronicprocesses
    Semi-insulatingGaAs
    IonicTransport
    2.8Concludingcomments
    ReferencestoChapter2
    Chapter3LUMINESCENCEANDPHOTOCONDUCTIVITY
    3.1Therelevanceofthesubject
    3.2Idealisedlightemissionrates
    3.3Analyticalformulation
    Thelimitofrapidtrapping
    3.4Reviewofluminescencedata
    Exponentialdecays
    Simplepowerlawdecays
    Morecomplexbehaviours
    3.5Conclusionsfromluminescence
    3.6PhotoconductivityintheF-D
    Principlesofphotoconductivebehaviour
    Analyticalformulation
    3.7Conclusions
    ReferencestoChapter3
    Chapter4"FLAS"DIELECTRICRESPONSE
    Chapter5LOW-FREQUENCYDISPERSION
    Chapter6DCANDACCONDUCTIVITY
    Chapter7CHEMICALREACTIONDINETICS
    Chapter8THERMALLYSTIMULATEDDEPOLARISATION
    Chapter9MECHANICALrELAXATION
    Chapter10MEASUREMENTANDPRESENTATIONOFDATA
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    AuthorIndex
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