模拟电子系统设计指南（实践篇）：从半导体、分立元件到ADI集成电路的分析与实现

作者: 何宾作者

出版社: 电子工业出版社

出版时间: 2017-10

版次: 1

ISBN: 9787121327612

定价: 78.00

装帧: 平装

开本: 其他

页数: 388页

正文语种: 简体中文

丛书: 电子系统EDA新技术丛书

分类: 工程技术

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本书以NI公司的Multisim Workbench、EVIS和rogel的测试仪器为平台，从仿真、虚拟仪器和实际测试仪器等三方面对模拟电子技术进行分析，并且提供了一些扩展性的设计内容，力图全面反映模拟电子设计技术的发展趋势。
数字系统设计专家，EDA技术领域畅销书作者。2004年，于北京理工大学信号与信息处理专业博士毕业，目前在北京化工大学信息学院从事EDA方面的教学和科研工作。目前和XILINX、CYPRESS、ALTIUM、ARM、MATHWORK大学计划部门合作，先后出版16本EDA方面的著作，内容涵盖了目前国内电子设计所必需掌握的基本的知识点。同时，和Xilinx保持密切的合作，在2010年-2011年全国进行大学生电子设计竞赛极力推进FPGA专题方面的培训工作，在EDA教学与科研应用方面积累了丰富的经验。已出版相关图书《Xilinx All Programmable Zynq-7000 SoC设计指南》、《EDA原理及Verilog实现》、《EDA原理及VHDL实现》、《基于AXI4的可编程SOC系统设计》、《Xilinx FPGA设计权威指南》等深受读者喜欢的Xilinx FPGA图书。
目录

第章构建模拟电子系统的基本知识 1
1.1 电阻 1
1.1.1 轴向引线型电阻 1
1.1.2 电阻网络 4
1.1.3 贴片式电阻元件的封装 5
1.2 电容 6
1.2.1 功能 6
1.2.2 有极性电容 7
1.2.3 无极性电容 9
1.2.4 聚苯乙烯电容 9
1.2.5 真实的电容值 9
1.2.6 电容的寄生效应 10
1.2.7 寄生电容 13
1.2.8 不同类型电容比较 15
1.3 面包板 16
1.3.1 面包板结构和功能 16
1.3.2 寄生电容 18
第章 SPICE仿真工具 20
2.1 Multisim Live特性及其应用 20
2.1.1 登陆Multisim Live 20
2.1.2 Multisim Live设计流程 21
2.2 ADIsimPE仿真工具特性及应用 30
2.2.1 下载和安装ADIsimPE仿真工具 30
2.2.2 ADIsimPE仿真工具基本设计流程 32
第章测试仪器原理 38
3.1 数字示波器原理 38
3.1.1 信号的基本概念 38
3.1.2 示波器类型 41
3.1.3 数字示波器基本原理 41
3.1.4 性能参数 42
3.1.4 触发方式 51
3.1.5 X-Y模式 58
3.2 信号发生器原理 58
3.2.1 信号发生器功能 58
3.2.2 信号发生器的类型 60
3.2.3 工作原理 60
3.3.4 性能参数 63
3.3 线性直流电源原理 70
3.3.1 工作原理 70
3.3.2 工作模式 71
3.3.2 性能参数 72
3.3.3 扩展应用 73
3.4 数字万用表原理 74
3.4.1 工作原理 75
3.4.2 性能参数 75
3.5 频谱分析仪原理 76
3.5.1 信号的时域和频域表示 76
3.5.2 频谱分析仪的用途 77
3.5.3 频谱分析仪种类 78
3.5.4 性能参数 84
3.6 直流电子负载 87
第章信号时域和频率表示 90
4.1 实验目的 90
4.2 实验材料及仪器 90
4.3 MDO3054混合域示波器主要功能 90
4.3.1 常见按钮和菜单 91
4.3.2 前面板菜单按钮 91
4.3.3 频谱分析控件操作面板 92
4.3.4 其他控制 92
4.3 实验原理 94
4.3.1 设置任意函数发生器 94
4.3.2 正弦信号的时域分析 95
4.3.3 正弦信号的频域分析 97
第章二极管电路设计与验证 103
5.1 二极管I/V曲线测量 103
5.1.1 实验目的 103
5.1.2 实验材料及仪器 103
5.1.3 电路设计原理 103
5.1.4 硬件测试电路 104
5.1.5 测试结果分析 106
5.2 半波整流电路设计和验证 107
5.2.1 实验目的 107
5.2.2 实验材料及仪器 107
5.2.3 电路设计原理 107
5.2.4 硬件测试电路 108
5.2.5 测试结果分析 109
5.3 全波整流电路设计和验证 110
5.3.1 实验目的 110
5.3.2 实验材料及仪器 110
5.3.3 电路设计原理 111
5.3.4 硬件测试电路 112
5.3.5 测试结果分析 113
5.4 桥式整流电路设计和验证 113
5.4.1 实验目的 113
5.4.2 实验材料及仪器 114
5.4.3 电路设计原理 114
5.4.4 硬件测试电路 115
5.4.5 测试结果分析 116
5.5 限幅电路设计和验证 117
5.5.1 实验目的 117
5.5.2 实验材料及仪器 117
5.5.3 电路设计原理 118
5.5.4 硬件测试电路 119
5.5.5 测试结果分析 120
5.6 交流耦合和直流恢复电路设计和验证 122
5.6.1 实验目的 122
5.6.2 实验材料及仪器 122
5.6.3 电路设计原理 122
5.6.4 硬件测试电路 124
5.6.5 测试结果分析 125
5.7 可变衰减器设计和验证 126
5.7.1 实验目的 126
5.7.2 实验材料及仪器 126
5.7.3 电路设计原理 126
5.7.4 硬件测试电路 128
5.7.5 测试结果分析 129
第章　双极结型晶体管电路设计与验证 131
6.1 BJT用作二极管 131
6.1.1 实验目的 131
6.1.2 实验材料及仪器 131
6.1.3 电路设计原理 131
6.1.4 硬件测试电路 133
6.1.5 测试结果分析 134
6.2 BJT输出特性曲线测量 135
6.2.1 实验目的 135
6.2.2 实验材料及仪器 136
6.2.3 电路设计原理 136
6.2.4 阶梯波生成方法 138
6.2.5 硬件测试电路 140
6.2.6 测试结果分析 142
6.3 BJT共射极放大电路设计和验证 145
6.3.1 实验目的 145
6.3.2 实验材料及仪器 145
6.3.3 电路设计原理 145
6.3.4 硬件测试电路 146
6.3.5 测试结果分析 148
6.4 BJT镜像电流源设计和验证 148
6.4.1 实验目的 149
6.4.2 实验材料及仪器 149
6.4.3 电路设计原理 149
6.4.4 硬件测试电路 150
6.6.4 测试结果分析 151
6.5 基极电流补偿镜像电流源 152
6.5.1 实验目的 152
6.5.2 实验材料及仪器 152
6.5.3 电路设计原理 152
6.5.4 硬件测试电路 153
6.5.5 测试结果分析 155
6.6 零增益放大器设计和验证 156
6.6.1 实验目的 156
6.6.2 实验材料及仪器 156
6.6.3 电路设计原理 156
6.6.4 硬件测试电路 158
6.6.5 测试结果分析 159
6.7 稳压电流源设计和验证 160
6.7.1 实验目的 161
6.7.2 实验材料及仪器 161
6.7.3 电路设计原理 161
6.7.4 硬件测试电路 162
6.7.5 测试结果分析 163
6.8 并联整流器设计和验证 164
6.8.1 实验目的 164
6.8.2 实验材料及仪器 164
6.8.3 电路设计原理 164
6.8.4 硬件测试电路 166
6.8.5 测试结果分析 167
6.9 射极跟随器设计和验证 169
6.9.1 实验目的 169
6.9.2 实验材料及仪器 169
6.9.3 电路设计原理 169
6.9.4 硬件测试电路 170
6.9.5 测试结果分析 171
6.10 差模输入差分放大器电路设计和验证 172
6.10.1 实验目的 172
6.10.2 实验材料及仪器 173
6.10.3 电路设计原理 173
6.10.4 硬件测试电路 175
6.10.5 测试结果分析 177
6.11 共模输入差分放大器电路设计和验证 178
6.11.1 实验目的 178
6.11.2 实验材料及仪器 178
6.11.3 电路设计原理 179
6.11.4 硬件测试电路 179
6.11.5 测试结果分析 181
第章　金属氧化物场效应晶体管电路设计与验证 182
7.1 MOS用作二极管电路测试 182
7.1.1 实验目的 182
7.1.2 实验材料及仪器 182
7.1.3 电路设计原理 182
7.1.4 硬件测试电路 184
7.1.5 测试结果分析 185
7.2 MOS输出曲线测量 186
7.2.1 实验目的 187
7.2.2 实验材料及仪器 187
7.2.3 电路设计原理 187
7.2.4 硬件测试电路 188
7.2.4 测试结果分析 190
7.3 MOS转移特性曲线测量 192
7.3.1 实验目的 192
7.3.2 实验材料及仪器 192
7.3.3 电路设计原理 193
7.3.4 硬件测试电路 195
7.3.5 测试结果分析 196
7.4 MOS共源极放大电路设计和验证 200
7.4.1 实验目的 201
7.4.2 实验材料及仪器 201
7.4.3 电路设计原理 201
7.4.4 硬件测试电路 202
7.4.5 测试结果分析 203
7.5 MOS镜像电流源电路设计和验证 204
7.5.1 实验目的 205
7.5.2 实验材料及仪器 205
7.5.3 电路设计原理 205
7.5.4 硬件测试电路 206
7.5.5 测试结果分析 207
7.6 零增益放大器电路设计和验证 208
7.6.1 实验目的 208
7.6.2 实验材料及仪器 208
7.6.3 电路设计原理 209
7.6.4 硬件测试电路 210
7.6.5 测试结果分析 211
7.7 源极跟随器电路设计和验证 212
7.7.1 实验目的 212
7.7.2 实验材料及仪器 213
7.7.3 电路设计原理 213
7.7.4 硬件测试电路 214
7.7.5 测试结果分析 215
7.8 差模输入差分放大器电路设计和验证 216
7.8.1 实验目的 216
7.8.2 实验材料及仪器 216
7.8.3 电路设计原理 217
7.8.4 硬件测试电路 218
7.8.5 测试结果分析 219
7.9 共模输入差分放大器电路设计和验证 220
7.9.1 实验目的 220
7.9.2 实验材料及仪器 221
7.9.3 电路设计原理 221
7.9.4 硬件测试电路 221
7.9.5 测试结果分析 223
第章集成运算放大器电路设计与验证 224
8.1 同相放大器电路设计和验证 224
8.1.1 实验目的 224
8.1.2 实验材料及仪器 224
8.1.3 电路设计原理 224
8.1.4 硬件测试电路 226
8.1.5 测试结果分析 227
8.2 反相放大器电路设计和验证 227
8.2.1 实验目的 228
8.2.2 实验材料及仪器 228
8.2.3 电路设计原理 228
8.2.4 硬件测试电路 229
8.2.5 测试结果分析 230
8.3 电压跟随器电路设计和验证 231
8.3.1 实验目的 231
8.3.2 实验材料及仪器 231
8.3.3 电路设计原理 232
8.3.4 硬件测试电路 233
8.3.5 测试结果分析 234
8.4 加法器电路设计和验证 234
8.4.1 实验目的 234
8.4.2 实验材料及仪器 235
8.4.3 电路设计原理 235
8.4.4 硬件测试电路 236
8.4.5 测试结果分析 237
8.5 积分器电路设计和验证 238
8.5.1 实验目的 238
8.5.2 实验材料及仪器 238
8.5.3 电路设计原理 239
8.5.4 硬件测试电路 240
8.5.5 测试结果分析 241
8.6 微分器电路设计和验证 242
8.6.1 实验目的 242
8.6.2 实验材料及仪器 242
8.6.3 电路设计原理 242
8.6.4 硬件测试电路 243
8.6.5 测试结果分析 244
8.7 半波整流器电路设计和验证 245
8.7.1 实验目的 245
8.7.2 实验材料及仪器 245
8.7.3 电路设计原理 246
8.7.4 硬件测试电路 247
8.7.5 测试结果分析 248
8.8 全波整流器电路设计和验证 249
8.8.1 实验目的 249
8.8.2 实验材料及仪器 249
8.8.3 电路设计原理 249
8.8.4 硬件测试电路 251
8.8.5 测试结果分析 252
8.9 单电源同相放大器电路设计和验证 253
8.9.1 实验目的 253
8.9.2 实验材料及仪器 253
8.9.3 电路设计原理 253
8.9.4 硬件测试电路 254
8.9.5 测试结果分析 256
第章　集成差动放大器电路设计与验证 258
9.1 应变力测量电路设计和验证 258
9.1.1 实验目的 258
9.1.2 实验材料及仪器 258
9.1.3 应变片原理 259
9.1.4 电路设计原理 260
9.1.5 硬件测试电路 262
9.1.6 测试结果分析 263
9.2 热电阻测量电路设计和验证 264
9.2.1 实验目的 265
9.2.2 实验材料及仪器 265
9.2.3 温度传感器原理 265
9.2.4 电路设计原理 266
9.2.5 硬件测试电路 266
9.2.6 测试结果分析 267
第章　有源滤波器电路设计与验证 269
10.1 一阶有源低通滤波器电路设计和验证 269
10.1.1 实验目的 269
10.1.2 实验材料及仪器 269
10.1.3 电路设计原理 270
10.1.4 硬件测试电路 272
10.1.5 测试结果分析 273
10.2 一阶有源高通滤波器电路设计和验证 276
10.2.1 实验目的 276
10.2.2 实验材料及仪器 277
10.2.3 电路设计原理 277
10.2.4 硬件测试电路 279
10.2.5 测试结果分析 280
10.3 一阶有源带通滤波器电路设计和验证 283
10.3.1 实验目的 283
10.3.2 实验材料及仪器 284
10.3.3 电路设计原理 284
10.3.4 硬件测试电路 286
10.3.5 测试结果分析 288
10.4 一阶有源带阻滤波器电路设计和验证 294
10.4.1 实验目的 294
10.4.2 实验材料及仪器 294
10.4.3 电路设计原理 295
10.4.4 硬件测试电路 297
10.4.5 测试结果分析 298
10.5 二阶有源低通滤波器电路设计和验证 303
10.5.1 实验目的 303
10.5.2 实验材料及仪器 303
10.5.3 电路设计原理 304
10.5.4 硬件测试电路 305
10.5.5 测试结果分析 307
第章功率放大器电路设计与验证 311
11.1 B类功率放大器电路设计与验证 311
11.1.1 实验目的 311
11.1.2 实验材料及仪器 311
11.1.3 电路设计原理 311
11.1.4 硬件测试电路 313
11.1.5 测试结果分析 314
11.2 AB类功率输出放大器电路设计与验证（一） 315
11.2.1 实验目的 316
11.2.2 实验材料及仪器 316
11.2.3 电路设计原理 316
11.2.4 硬件测试电路 318
11.2.5 测试结果分析 319
11.3 AB类功率输出放大器电路设计与验证（二） 320
11.3.1 实验目的 320
11.3.2 实验材料及仪器 320
11.3.3 电路设计原理 320
11.3.4 硬件测试电路 322
11.3.5 测试结果分析 323
第章　振荡器电路设计与验证 325
12.1 移相振荡器电路设计和验证 325
12.1.1 实验目的 325
12.1.2 实验材料及仪器 325
12.1.3 电路设计原理 325
12.1.4 硬件测试电路 327
12.1.5 测试结果分析 329
12.2 文氏桥振荡器电路设计和验证 329
12.2.1 实验目的 330
12.2.2 实验材料及仪器 330
12.2.3 电路设计原理 330
12.2.4 硬件测试电路 332
12.2.5 测试结果分析 334
第章　电源管理器电路设计与验证 335
13.1 线性电源电路设计和验证 335
13.1.1 实验目的 335
13.1.2 实验材料及仪器 335
13.1.3 硬件测试电路 336
13.1.5 测试结果分析 337
13.2 降压型开关电源设计与验证 339
13.2.1 实验目的 339
13.2.2 实验材料和仪器 340
13.2.3 电路设计原理 340
13.2.4 硬件测试电路 345
13.2.5 测试结果分析 346
13.3 升压型开关电源设计与验证 353
13.3.1 实验目的 353
13.3.2 实验材料和仪器 353
13.3.3 电路设计原理 354
13.3.4 硬件测试电路 355
13.3.5 测试结果分析 356
第章　模拟电路自动测试系统的构建 362
14.1 实验目的 362
14.2 实验材料及仪器 362
14.3 自动测试系统构建原理及实现 362
14.3.1 下载并安装软件 362
14.3.2 测试仪器与上位机连接 365
14.3.3 使用TekVISA软件工具 366
14.3.4 使用arbexpress软件工具 368
14.3.5 使用OpenChoice软件工具
内容简介:
本书以NI公司的Multisim Workbench、EVIS和rogel的测试仪器为平台，从仿真、虚拟仪器和实际测试仪器等三方面对模拟电子技术进行分析，并且提供了一些扩展性的设计内容，力图全面反映模拟电子设计技术的发展趋势。
作者简介:

数字系统设计专家，EDA技术领域畅销书作者。2004年，于北京理工大学信号与信息处理专业博士毕业，目前在北京化工大学信息学院从事EDA方面的教学和科研工作。目前和XILINX、CYPRESS、ALTIUM、ARM、MATHWORK大学计划部门合作，先后出版16本EDA方面的著作，内容涵盖了目前国内电子设计所必需掌握的基本的知识点。同时，和Xilinx保持密切的合作，在2010年-2011年全国进行大学生电子设计竞赛极力推进FPGA专题方面的培训工作，在EDA教学与科研应用方面积累了丰富的经验。已出版相关图书《Xilinx All Programmable Zynq-7000 SoC设计指南》、《EDA原理及Verilog实现》、《EDA原理及VHDL实现》、《基于AXI4的可编程SOC系统设计》、《Xilinx FPGA设计权威指南》等深受读者喜欢的Xilinx FPGA图书。
目录:

目录

第章构建模拟电子系统的基本知识 1
1.1 电阻 1
1.1.1 轴向引线型电阻 1
1.1.2 电阻网络 4
1.1.3 贴片式电阻元件的封装 5
1.2 电容 6
1.2.1 功能 6
1.2.2 有极性电容 7
1.2.3 无极性电容 9
1.2.4 聚苯乙烯电容 9
1.2.5 真实的电容值 9
1.2.6 电容的寄生效应 10
1.2.7 寄生电容 13
1.2.8 不同类型电容比较 15
1.3 面包板 16
1.3.1 面包板结构和功能 16
1.3.2 寄生电容 18
第章 SPICE仿真工具 20
2.1 Multisim Live特性及其应用 20
2.1.1 登陆Multisim Live 20
2.1.2 Multisim Live设计流程 21
2.2 ADIsimPE仿真工具特性及应用 30
2.2.1 下载和安装ADIsimPE仿真工具 30
2.2.2 ADIsimPE仿真工具基本设计流程 32
第章测试仪器原理 38
3.1 数字示波器原理 38
3.1.1 信号的基本概念 38
3.1.2 示波器类型 41
3.1.3 数字示波器基本原理 41
3.1.4 性能参数 42
3.1.4 触发方式 51
3.1.5 X-Y模式 58
3.2 信号发生器原理 58
3.2.1 信号发生器功能 58
3.2.2 信号发生器的类型 60
3.2.3 工作原理 60
3.3.4 性能参数 63
3.3 线性直流电源原理 70
3.3.1 工作原理 70
3.3.2 工作模式 71
3.3.2 性能参数 72
3.3.3 扩展应用 73
3.4 数字万用表原理 74
3.4.1 工作原理 75
3.4.2 性能参数 75
3.5 频谱分析仪原理 76
3.5.1 信号的时域和频域表示 76
3.5.2 频谱分析仪的用途 77
3.5.3 频谱分析仪种类 78
3.5.4 性能参数 84
3.6 直流电子负载 87
第章信号时域和频率表示 90
4.1 实验目的 90
4.2 实验材料及仪器 90
4.3 MDO3054混合域示波器主要功能 90
4.3.1 常见按钮和菜单 91
4.3.2 前面板菜单按钮 91
4.3.3 频谱分析控件操作面板 92
4.3.4 其他控制 92
4.3 实验原理 94
4.3.1 设置任意函数发生器 94
4.3.2 正弦信号的时域分析 95
4.3.3 正弦信号的频域分析 97
第章二极管电路设计与验证 103
5.1 二极管I/V曲线测量 103
5.1.1 实验目的 103
5.1.2 实验材料及仪器 103
5.1.3 电路设计原理 103
5.1.4 硬件测试电路 104
5.1.5 测试结果分析 106
5.2 半波整流电路设计和验证 107
5.2.1 实验目的 107
5.2.2 实验材料及仪器 107
5.2.3 电路设计原理 107
5.2.4 硬件测试电路 108
5.2.5 测试结果分析 109
5.3 全波整流电路设计和验证 110
5.3.1 实验目的 110
5.3.2 实验材料及仪器 110
5.3.3 电路设计原理 111
5.3.4 硬件测试电路 112
5.3.5 测试结果分析 113
5.4 桥式整流电路设计和验证 113
5.4.1 实验目的 113
5.4.2 实验材料及仪器 114
5.4.3 电路设计原理 114
5.4.4 硬件测试电路 115
5.4.5 测试结果分析 116
5.5 限幅电路设计和验证 117
5.5.1 实验目的 117
5.5.2 实验材料及仪器 117
5.5.3 电路设计原理 118
5.5.4 硬件测试电路 119
5.5.5 测试结果分析 120
5.6 交流耦合和直流恢复电路设计和验证 122
5.6.1 实验目的 122
5.6.2 实验材料及仪器 122
5.6.3 电路设计原理 122
5.6.4 硬件测试电路 124
5.6.5 测试结果分析 125
5.7 可变衰减器设计和验证 126
5.7.1 实验目的 126
5.7.2 实验材料及仪器 126
5.7.3 电路设计原理 126
5.7.4 硬件测试电路 128
5.7.5 测试结果分析 129
第章　双极结型晶体管电路设计与验证 131
6.1 BJT用作二极管 131
6.1.1 实验目的 131
6.1.2 实验材料及仪器 131
6.1.3 电路设计原理 131
6.1.4 硬件测试电路 133
6.1.5 测试结果分析 134
6.2 BJT输出特性曲线测量 135
6.2.1 实验目的 135
6.2.2 实验材料及仪器 136
6.2.3 电路设计原理 136
6.2.4 阶梯波生成方法 138
6.2.5 硬件测试电路 140
6.2.6 测试结果分析 142
6.3 BJT共射极放大电路设计和验证 145
6.3.1 实验目的 145
6.3.2 实验材料及仪器 145
6.3.3 电路设计原理 145
6.3.4 硬件测试电路 146
6.3.5 测试结果分析 148
6.4 BJT镜像电流源设计和验证 148
6.4.1 实验目的 149
6.4.2 实验材料及仪器 149
6.4.3 电路设计原理 149
6.4.4 硬件测试电路 150
6.6.4 测试结果分析 151
6.5 基极电流补偿镜像电流源 152
6.5.1 实验目的 152
6.5.2 实验材料及仪器 152
6.5.3 电路设计原理 152
6.5.4 硬件测试电路 153
6.5.5 测试结果分析 155
6.6 零增益放大器设计和验证 156
6.6.1 实验目的 156
6.6.2 实验材料及仪器 156
6.6.3 电路设计原理 156
6.6.4 硬件测试电路 158
6.6.5 测试结果分析 159
6.7 稳压电流源设计和验证 160
6.7.1 实验目的 161
6.7.2 实验材料及仪器 161
6.7.3 电路设计原理 161
6.7.4 硬件测试电路 162
6.7.5 测试结果分析 163
6.8 并联整流器设计和验证 164
6.8.1 实验目的 164
6.8.2 实验材料及仪器 164
6.8.3 电路设计原理 164
6.8.4 硬件测试电路 166
6.8.5 测试结果分析 167
6.9 射极跟随器设计和验证 169
6.9.1 实验目的 169
6.9.2 实验材料及仪器 169
6.9.3 电路设计原理 169
6.9.4 硬件测试电路 170
6.9.5 测试结果分析 171
6.10 差模输入差分放大器电路设计和验证 172
6.10.1 实验目的 172
6.10.2 实验材料及仪器 173
6.10.3 电路设计原理 173
6.10.4 硬件测试电路 175
6.10.5 测试结果分析 177
6.11 共模输入差分放大器电路设计和验证 178
6.11.1 实验目的 178
6.11.2 实验材料及仪器 178
6.11.3 电路设计原理 179
6.11.4 硬件测试电路 179
6.11.5 测试结果分析 181
第章　金属氧化物场效应晶体管电路设计与验证 182
7.1 MOS用作二极管电路测试 182
7.1.1 实验目的 182
7.1.2 实验材料及仪器 182
7.1.3 电路设计原理 182
7.1.4 硬件测试电路 184
7.1.5 测试结果分析 185
7.2 MOS输出曲线测量 186
7.2.1 实验目的 187
7.2.2 实验材料及仪器 187
7.2.3 电路设计原理 187
7.2.4 硬件测试电路 188
7.2.4 测试结果分析 190
7.3 MOS转移特性曲线测量 192
7.3.1 实验目的 192
7.3.2 实验材料及仪器 192
7.3.3 电路设计原理 193
7.3.4 硬件测试电路 195
7.3.5 测试结果分析 196
7.4 MOS共源极放大电路设计和验证 200
7.4.1 实验目的 201
7.4.2 实验材料及仪器 201
7.4.3 电路设计原理 201
7.4.4 硬件测试电路 202
7.4.5 测试结果分析 203
7.5 MOS镜像电流源电路设计和验证 204
7.5.1 实验目的 205
7.5.2 实验材料及仪器 205
7.5.3 电路设计原理 205
7.5.4 硬件测试电路 206
7.5.5 测试结果分析 207
7.6 零增益放大器电路设计和验证 208
7.6.1 实验目的 208
7.6.2 实验材料及仪器 208
7.6.3 电路设计原理 209
7.6.4 硬件测试电路 210
7.6.5 测试结果分析 211
7.7 源极跟随器电路设计和验证 212
7.7.1 实验目的 212
7.7.2 实验材料及仪器 213
7.7.3 电路设计原理 213
7.7.4 硬件测试电路 214
7.7.5 测试结果分析 215
7.8 差模输入差分放大器电路设计和验证 216
7.8.1 实验目的 216
7.8.2 实验材料及仪器 216
7.8.3 电路设计原理 217
7.8.4 硬件测试电路 218
7.8.5 测试结果分析 219
7.9 共模输入差分放大器电路设计和验证 220
7.9.1 实验目的 220
7.9.2 实验材料及仪器 221
7.9.3 电路设计原理 221
7.9.4 硬件测试电路 221
7.9.5 测试结果分析 223
第章集成运算放大器电路设计与验证 224
8.1 同相放大器电路设计和验证 224
8.1.1 实验目的 224
8.1.2 实验材料及仪器 224
8.1.3 电路设计原理 224
8.1.4 硬件测试电路 226
8.1.5 测试结果分析 227
8.2 反相放大器电路设计和验证 227
8.2.1 实验目的 228
8.2.2 实验材料及仪器 228
8.2.3 电路设计原理 228
8.2.4 硬件测试电路 229
8.2.5 测试结果分析 230
8.3 电压跟随器电路设计和验证 231
8.3.1 实验目的 231
8.3.2 实验材料及仪器 231
8.3.3 电路设计原理 232
8.3.4 硬件测试电路 233
8.3.5 测试结果分析 234
8.4 加法器电路设计和验证 234
8.4.1 实验目的 234
8.4.2 实验材料及仪器 235
8.4.3 电路设计原理 235
8.4.4 硬件测试电路 236
8.4.5 测试结果分析 237
8.5 积分器电路设计和验证 238
8.5.1 实验目的 238
8.5.2 实验材料及仪器 238
8.5.3 电路设计原理 239
8.5.4 硬件测试电路 240
8.5.5 测试结果分析 241
8.6 微分器电路设计和验证 242
8.6.1 实验目的 242
8.6.2 实验材料及仪器 242
8.6.3 电路设计原理 242
8.6.4 硬件测试电路 243
8.6.5 测试结果分析 244
8.7 半波整流器电路设计和验证 245
8.7.1 实验目的 245
8.7.2 实验材料及仪器 245
8.7.3 电路设计原理 246
8.7.4 硬件测试电路 247
8.7.5 测试结果分析 248
8.8 全波整流器电路设计和验证 249
8.8.1 实验目的 249
8.8.2 实验材料及仪器 249
8.8.3 电路设计原理 249
8.8.4 硬件测试电路 251
8.8.5 测试结果分析 252
8.9 单电源同相放大器电路设计和验证 253
8.9.1 实验目的 253
8.9.2 实验材料及仪器 253
8.9.3 电路设计原理 253
8.9.4 硬件测试电路 254
8.9.5 测试结果分析 256
第章　集成差动放大器电路设计与验证 258
9.1 应变力测量电路设计和验证 258
9.1.1 实验目的 258
9.1.2 实验材料及仪器 258
9.1.3 应变片原理 259
9.1.4 电路设计原理 260
9.1.5 硬件测试电路 262
9.1.6 测试结果分析 263
9.2 热电阻测量电路设计和验证 264
9.2.1 实验目的 265
9.2.2 实验材料及仪器 265
9.2.3 温度传感器原理 265
9.2.4 电路设计原理 266
9.2.5 硬件测试电路 266
9.2.6 测试结果分析 267
第章　有源滤波器电路设计与验证 269
10.1 一阶有源低通滤波器电路设计和验证 269
10.1.1 实验目的 269
10.1.2 实验材料及仪器 269
10.1.3 电路设计原理 270
10.1.4 硬件测试电路 272
10.1.5 测试结果分析 273
10.2 一阶有源高通滤波器电路设计和验证 276
10.2.1 实验目的 276
10.2.2 实验材料及仪器 277
10.2.3 电路设计原理 277
10.2.4 硬件测试电路 279
10.2.5 测试结果分析 280
10.3 一阶有源带通滤波器电路设计和验证 283
10.3.1 实验目的 283
10.3.2 实验材料及仪器 284
10.3.3 电路设计原理 284
10.3.4 硬件测试电路 286
10.3.5 测试结果分析 288
10.4 一阶有源带阻滤波器电路设计和验证 294
10.4.1 实验目的 294
10.4.2 实验材料及仪器 294
10.4.3 电路设计原理 295
10.4.4 硬件测试电路 297
10.4.5 测试结果分析 298
10.5 二阶有源低通滤波器电路设计和验证 303
10.5.1 实验目的 303
10.5.2 实验材料及仪器 303
10.5.3 电路设计原理 304
10.5.4 硬件测试电路 305
10.5.5 测试结果分析 307
第章功率放大器电路设计与验证 311
11.1 B类功率放大器电路设计与验证 311
11.1.1 实验目的 311
11.1.2 实验材料及仪器 311
11.1.3 电路设计原理 311
11.1.4 硬件测试电路 313
11.1.5 测试结果分析 314
11.2 AB类功率输出放大器电路设计与验证（一） 315
11.2.1 实验目的 316
11.2.2 实验材料及仪器 316
11.2.3 电路设计原理 316
11.2.4 硬件测试电路 318
11.2.5 测试结果分析 319
11.3 AB类功率输出放大器电路设计与验证（二） 320
11.3.1 实验目的 320
11.3.2 实验材料及仪器 320
11.3.3 电路设计原理 320
11.3.4 硬件测试电路 322
11.3.5 测试结果分析 323
第章　振荡器电路设计与验证 325
12.1 移相振荡器电路设计和验证 325
12.1.1 实验目的 325
12.1.2 实验材料及仪器 325
12.1.3 电路设计原理 325
12.1.4 硬件测试电路 327
12.1.5 测试结果分析 329
12.2 文氏桥振荡器电路设计和验证 329
12.2.1 实验目的 330
12.2.2 实验材料及仪器 330
12.2.3 电路设计原理 330
12.2.4 硬件测试电路 332
12.2.5 测试结果分析 334
第章　电源管理器电路设计与验证 335
13.1 线性电源电路设计和验证 335
13.1.1 实验目的 335
13.1.2 实验材料及仪器 335
13.1.3 硬件测试电路 336
13.1.5 测试结果分析 337
13.2 降压型开关电源设计与验证 339
13.2.1 实验目的 339
13.2.2 实验材料和仪器 340
13.2.3 电路设计原理 340
13.2.4 硬件测试电路 345
13.2.5 测试结果分析 346
13.3 升压型开关电源设计与验证 353
13.3.1 实验目的 353
13.3.2 实验材料和仪器 353
13.3.3 电路设计原理 354
13.3.4 硬件测试电路 355
13.3.5 测试结果分析 356
第章　模拟电路自动测试系统的构建 362
14.1 实验目的 362
14.2 实验材料及仪器 362
14.3 自动测试系统构建原理及实现 362
14.3.1 下载并安装软件 362
14.3.2 测试仪器与上位机连接 365
14.3.3 使用TekVISA软件工具 366
14.3.4 使用arbexpress软件工具 368
14.3.5 使用OpenChoice软件工具