国外大学优秀教材·材料科学与工程系列:透射电子显微学(4卷本)(影印版)

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作者: [美] , [美]
2007-08
版次: 1
ISBN: 9787302155294
定价: 89.00
装帧: 平装
开本: 4开
纸张: 胶版纸
页数: 729页
分类: 自然科学
6人买过
  •   本书是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷:基本概念,衍射理论,成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念,包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定,以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论,因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构,这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。
      本书作为教材很有创新性,而且把这一通用的材料表征技术的实际应用进行了必要的介绍和论述,是短时间内掌握电子显微镜的最佳学习途径,无论是电子显微镜初学者还是高级研究人员都将开卷有益。它也是亚马逊网上书店最畅销的教材之一。 ⅠBasics
    1TheTransmissionElectronMicroscope
    2ScatteringandDiffraction
    3ElasticScattering
    4InelasticScatteringandBeamDamage
    5ElectronSources
    6Lenses,Apertures,andResolution
    7Howto“See”Electrons
    8PumpsandHolders
    9TheInstrument
    10SpecimenPreparation
    ⅡDiffraction
    11DiffractionPatterns
    12ThinkinginReciprocalSpace
    13DiffractedBeams
    14BlochWaves
    15DispersionSurfaces
    16DiffractionfromCrystals
    17DiffractionfromSmallVolumes
    18IndexingDiffractionPatterns
    19KikuchiDiffraction
    20ObtainingCBEDPatterns
    21UsingConvergent-BeamTechniques
    ⅢImaging
    22ImagingintheTEM
    23ThicknessandBendingEffects
    24PlanarDefects
    25StrainFields
    26Weak-BeamDark-FieldMicroscopy
    27Phase-ContrastImages
    28High-ResolutionTEM
    29ImageSimulation
    30QuantifyingandProcessingHRTEMImages
    31OtherImagingTechniques
    ⅣSpectrometry
    32X-raySpectrometry
    33TheXEDS-TEMIterface
    34QualitativeX-rayAnalysis
    35QualitativeX-rayMicroanalysis
    36SpatialResolutionandMinimumDetectability
    37ElectronEnergy-LossSpectrometers
    38TheEnergy-LossSpectrum
    39Microanalysiswithlonization-LossElectrons
    40EverythingElseintheSpectrum
  • 内容简介:
      本书是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷:基本概念,衍射理论,成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念,包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定,以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论,因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构,这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。
      本书作为教材很有创新性,而且把这一通用的材料表征技术的实际应用进行了必要的介绍和论述,是短时间内掌握电子显微镜的最佳学习途径,无论是电子显微镜初学者还是高级研究人员都将开卷有益。它也是亚马逊网上书店最畅销的教材之一。
  • 目录:
    ⅠBasics
    1TheTransmissionElectronMicroscope
    2ScatteringandDiffraction
    3ElasticScattering
    4InelasticScatteringandBeamDamage
    5ElectronSources
    6Lenses,Apertures,andResolution
    7Howto“See”Electrons
    8PumpsandHolders
    9TheInstrument
    10SpecimenPreparation
    ⅡDiffraction
    11DiffractionPatterns
    12ThinkinginReciprocalSpace
    13DiffractedBeams
    14BlochWaves
    15DispersionSurfaces
    16DiffractionfromCrystals
    17DiffractionfromSmallVolumes
    18IndexingDiffractionPatterns
    19KikuchiDiffraction
    20ObtainingCBEDPatterns
    21UsingConvergent-BeamTechniques
    ⅢImaging
    22ImagingintheTEM
    23ThicknessandBendingEffects
    24PlanarDefects
    25StrainFields
    26Weak-BeamDark-FieldMicroscopy
    27Phase-ContrastImages
    28High-ResolutionTEM
    29ImageSimulation
    30QuantifyingandProcessingHRTEMImages
    31OtherImagingTechniques
    ⅣSpectrometry
    32X-raySpectrometry
    33TheXEDS-TEMIterface
    34QualitativeX-rayAnalysis
    35QualitativeX-rayMicroanalysis
    36SpatialResolutionandMinimumDetectability
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