SOC设计与测试
出版时间:
2003-08
版次:
1
ISBN:
9787810773089
定价:
35.00
装帧:
其他
开本:
其他
纸张:
其他
页数:
210页
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本书分为设计师和测试两个部分，分别介绍了SOC设计方法和测试方法，大设计部分介绍了在设计时会遇到的问题和传统的的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核，存储器核，及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及SOC系统的验证方法，在测试部分，介绍SOC中逻辑核，存储器核及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍IDDQ测试大SOC测试中的应用，最后介绍产品测试中需要注意的问题，全书内容全面，可以作为教材。对ASIC设计工程师及系统设计工程师都有较高的参考价值。
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内容简介:
本书分为设计师和测试两个部分，分别介绍了SOC设计方法和测试方法，大设计部分介绍了在设计时会遇到的问题和传统的的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核，存储器核，及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及SOC系统的验证方法，在测试部分，介绍SOC中逻辑核，存储器核及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍IDDQ测试大SOC测试中的应用，最后介绍产品测试中需要注意的问题，全书内容全面，可以作为教材。对ASIC设计工程师及系统设计工程师都有较高的参考价值。
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SOC设计与测试
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