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SMT核心工艺解析与案例分析（第4版）

作者: 贾忠中

出版社: 电子工业出版社

出版时间: 2020-09

版次: 4

ISBN: 9787121395598

定价: 168.00

装帧: 其他

开本: 16开

纸张: 胶版纸

页数: 460页

字数: 736千字

分类: 工程技术

1 张插图图片

51人买过

本书是作者多年从事电子工艺工作的经验总结。全书分上、下两篇。上篇（第1～6章）汇集了表面组装技术的54项核心工艺，从工程应用角度，全面、系统地对其应用原理进行了解析和说明，对深刻理解SMT的工艺原理、指导实际生产、处理生产现场问题有很大的帮助；下篇（第7～14章）精选了127个典型的组装失效现象或案例，较全面地展示了实际生产中遇到的各种工艺问题，包括由工艺、设计、元器件、PCB、操作、环境等因素引起的工艺问题，对处理现场生产问题、提高组装的可靠性具有非常现实的指导作用。本书编写形式新颖，直接切入主题，重点突出，是一本非常有价值的工具书，适合有一年以上实际工作经验的电子装联工程师使用，也可作为大学本科、高职院校电子装联专业师生的参考书。贾忠中，中兴通讯股份有限公司首席工艺专家，从事电子制造工艺研究与管理工作近30年。在中兴通讯工作期间，见证并参与了中兴工艺的发展历程。历任工艺研究部部长、副总工艺师、总工艺师、首席工艺专家。担任广东电子学会SMT专委会副主任委员、中国电子学会委员。对SMT、可制造性设计、失效分析、焊接可靠性等有着深入、系统地研究，擅长组装不良分析、焊点失效分析。出版作品有：《SMT工艺质量控制》《SMT可制造性设计》《SMT工艺不良与组装可靠性》《SMT核心工艺解析与案例分析》（该书2010—2016年先后修订二次，第3版于2016年出版）等，发表论文多篇，被粉丝誉为“实战专家”。第1 章表面组装技术基础/3

1.1 电子封装工程/3

1.2 表面组装技术/4

1.3 表面组装基本工艺流程/6

1.4 PCBA 组装方式/7

1.5 表面组装元器件的封装形式/10

1.6 印制电路板制造工艺/16

1.7 表面组装工艺控制关键点/24

1.8 表面润湿与可焊性/25

1.9 焊点的形成过程与金相组织/26

1.10 焊点质量判别/37

1.11 贾凡尼效应、电化学迁移与爬行腐蚀的概念/41

1.12 PCB 表面处理与工艺特性/45

第2 章工艺辅料/59

2.1 助焊剂/59

2.2 焊膏/65

2.3 无铅焊料/70

第3 章　核心工艺/74

3.1　钢网设计/74

3.2　焊膏印刷/80

3.3　贴片/90

3.4　再流焊接/91

3.5　波峰焊接/103

3.6　选择性波峰焊接/120

3.7　通孔再流焊接/126

3.8　柔性电路板组装工艺/128

3.9　烙铁焊接/130

第4 章　特定封装组装工艺/132

4.1　03015 组装工艺/132

4.2　01005 组装工艺/134

4.3 0201 组装工艺/139

4.4　0.4mm CSP 组装工艺/142

4.5　BGA 组装工艺/148

4.6　PoP 组装工艺/159

4.7　QFN 组装工艺/166

4.8　陶瓷柱状栅阵列元器件（CCGA）组装工艺要点/173

4.9　晶振组装工艺要点/174

4.10 片式电容组装工艺要点/175

4.11 铝电解电容膨胀变形对性能影响的评估/178

第5 章可制造性设计/179

5.1 重要概念/179

5.2 PCBA 可制造性设计概述/183

5.3 基本的PCBA 可制造性设计/188

5.4 PCBA 自动化生产要求/189

5.5 组装流程设计/194

5.6 再流焊接面元器件的布局设计/197

5.7 波峰焊接面元器件的布局设计/202

5.8 表面组装元器件焊盘设计/209

5.9 插装元器件孔盘设计/215

5.10 导通孔盘设计/216

5.11 焊盘与导线连接的设计/217

第6 章现场工艺/218

6.1 现场制造通用工艺/218

6.2 潮敏元器件的应用指南/219

6.3 焊膏的管理与应用指南/232

6.4 焊膏印刷参数调试/234

6.5 再流焊接温度曲线测试指南/237

6.6 再流焊接温度曲线设置指南/239

6.7 波峰焊接机器参数设置指南/243

6.8 BGA 底部加固指南/244

下　　篇　　生产工艺问题与对策

第7 章由工艺因素引起的焊接问题/251

7.1 密脚器件的桥连/251

7.2 密脚器件虚焊/253

7.3 空洞/254

7.4 元器件的侧立、翻转/267

7.5 BGA 虚焊/268

7.6 BGA 球窝现象/269

7.7 BGA 的缩锡断裂/272

7.8 镜面对贴BGA 缩锡断裂现象/275

7.9 BGA 焊点机械应力断裂/278

7.10 BGA 热重熔断裂/288

7.11 BGA 结构型断裂/290

7.12 BGA 焊盘不润湿/291

7.13 BGA 焊盘不润湿（特定条件：焊盘无焊膏）/292

7.14 BGA 黑盘断裂/293

7.15 BGA 返修工艺中出现的桥连/294

7.16 BGA 焊点间桥连/296

7.17 BGA 焊点与邻近导通孔锡环间桥连/297

7.18 无铅焊点表面微裂纹现象/298

7.19 ENIG 焊盘上的焊锡污染/299

7.20 ENIG 焊盘上的焊剂污染/300

7.21 锡球——特定条件：再流焊接工艺/301

7.22 锡球——特定条件：波峰焊接工艺/302

7.23 立碑/303

7.24 锡珠/305

7.25 0603 片式元件波峰焊接时两焊端桥连/306

7.26 插件元器件桥连/307

7.27 插件桥连——特定条件：安装形态（引线、焊盘、间距组成的环境）引起的/308

7.28 插件桥连——特定条件：掩模板开窗引起的/309

7.29 波峰焊接掉片/310

7.30 波峰焊接掩模板设计不合理导致的冷焊问题/311

7.31 PCB 变色但焊膏没有熔化/312

7.32 元器件移位/313

7.33 元器件移位——特定条件：设计/ 工艺不当/314

7.34 元器件移位——特定条件：较大尺寸热沉焊盘上有盲孔/315

7.35 元器件移位——特定条件：焊盘比引脚宽/316

7.36 元器件移位——特定条件：元器件下导通孔塞孔不良/317

7.37 元器件移位——特定条件：元器件焊端不对称/318

7.38 通孔再流焊接插针太短导致气孔/319

7.39 测试设计不当造成焊盘被烧焦并脱落/320

7.40 热沉元器件焊剂残留物聚集现象/321

7.41 热沉焊盘导热孔底面冒锡/322

7.42 热沉焊盘虚焊/324

7.43 片式电容因工艺引起的开裂失效/325

7.44 铜柱连接块开焊/326

第8 章由PCB 引起的问题/329

8.1 无铅HDI 板分层/329

8.2　再流焊接时导通孔“长”出黑色物质/330

8.3　波峰焊接点吹孔/331

8.4　BGA 拖尾孔/332

8.5　ENIG 板波峰焊接后插件孔盘边缘不润湿现象/333

8.6　ENIG 表面过炉后变色/335

8.7 ENIG 面区域性麻点状腐蚀现象/336

8.8 OSP 板波峰焊接时金属化孔透锡不良/337

8.9　喷纯锡对焊接的影响 /338

8.10 阻焊剂起泡/339

8.11 ENIG 镀孔压接问题/340

8.12 PCB 光板过炉（无焊膏）焊盘变深黄色/341

8.13　微盲孔内残留物引起BGA 焊点空洞大尺寸化/342

8.14　超储存期板焊接分层/343

8.15　PCB 局部凹陷引起焊膏桥连/344

8.16　BGA 下导通孔阻焊偏位/345

8.17　喷锡板导通孔容易产生藏锡珠的现象/346

8.18　喷锡板单面塞孔容易产生藏锡珠的现象/347

8.19　CAF 引起的PCBA 失效/348

8.20　元器件下导通孔塞孔不良导致元器件移位/350

8.21　PCB 基材波峰焊接后起白斑现象/351

8.22　BGA 焊盘下 PCB 次表层树脂开裂/354

8.23　导通孔孔壁与内层导线断裂/356

第9 章　由元器件电极结构、封装引起的问题 /359

9.1　银电极渗析/359

9.2　单侧引脚连接器开焊/360

9.3　宽引脚元器件焊点开焊/361

9.4　片式排阻虚焊（开焊）/362

9.5　QFN 虚焊/363

9.6　元器件热变形引起的开焊/364

9.7　Slug-BGA 的虚焊 /365

9.8　陶瓷板塑封模块焊接时内焊点桥连/366

9.9　全矩阵BGA 的返修—角部焊点桥连或心部焊点桥连/367

9.10　铜柱焊端的焊接—焊点断裂/368

9.11　堆叠封装焊接造成的内部桥连/369

9.12　手机EMI 器件的虚焊/370

9.13　F-BGA 翘曲/371

9.14　复合器件内部开裂—晶振内部/372

9.15　连接器压接后偏斜/373

9.16　引脚伸出PCB 太长，导致通孔再流焊接“球头现象”/374

9.17　钽电容旁元器件被吹走/375

9.18 灌封器件吹气/377

9.19　手机侧键内进松香/378

9.20 MLP（ Molded Laser PoP）的虚焊与桥连 /379

9.21 表贴连接器焊接动态变形/382

第10 章由设备引起的问题/384

10.1 再流焊接后PCB 表面出现异物/384

10.2 PCB 静电引起Dek 印刷机频繁死机/385

10.3 再流焊接炉链条颤动引起元器件移位/386

10.4 再流焊接炉导轨故障使单板被烧焦/387

10.5 贴片机PCB 夹持工作台上下冲击引起重元器件移位/388

10.6 钢网变形导致BGA 桥连/389

10.7 擦网纸与擦网工艺引起的问题/390

第11 章由设计因素引起的工艺问题/392

11.1 HDI 板焊盘上的微盲孔引起的少锡/ 开焊/392

11.2 焊盘上开金属化孔引起的虚焊、冒锡球/393

11.3 焊盘与元器件引脚尺寸不匹配引起开焊/395

11.4 测试盘接通率低/396

11.5 BGA 附近设计有紧固件，无工装装配时容易引起BGA 焊点断裂/397

11.6 散热器弹性螺钉布局不合理引起周边BGA 的焊点拉断/398

11.7 局部波峰焊接工艺下元器件布局不合理导致被撞掉/399

11.8 模块黏合工艺引起片式电容开裂/400

11.9 具有不同焊接温度需求的元器件被布局在同一面/401

11.10 设计不当引起片式电容失效/402

11.11 设计不当导致模块电源焊点断裂/403

11.12 拼板V 槽残留厚度小导致PCB 严重变形/405

11.13 0.4mm 间距CSP 焊盘区域凹陷/407

11.14 薄板拼板连接桥宽度不足引起变形/408

11.15 灌封PCBA 插件焊点断裂/409

11.16 机械盲孔板的孔盘环宽小导致PCB 制作良率低/410

11.17 面板结构设计不合理导致装配时LED 被撞/412

第12 章由手工焊接、三防工艺引起的问题/413

12.1 焊点表面残留焊剂白化/413

12.2 焊点附近三防漆变白/414

12.3 导通孔焊盘及元器件焊端发黑/415

第13 章操作不当引起的焊点断裂与元器件损伤/416

13.1 不当的拆连接器操作使得SOP 引脚被拉断/416

13.2 机械冲击引起的BGA 断裂/417

13.3 多次弯曲造成的BGA 焊盘被拉断/418

13.4 无工装安装螺钉导致BGA 焊点被拉断/419

13.5 散热器弹性螺钉引起周边BGA 的焊点被拉断/420

13.6 元器件被周转车导槽撞掉/421

第14 章腐蚀失效/422

14.1 常见的腐蚀现象/422

14.2 厚膜电阻/ 排阻硫化失效/424

14.3 电容硫化现象/426

14.4 PCB 爬行腐蚀现象/428

14.5 SOP 爬行腐蚀现象/430

14.6 Ag 有关的典型失效/435

附录A 国产SMT 设备与材料/439

A.1 国产SMT 设备的发展历程/439

A.2 SMT 国产设备与材料/441

附录B 术语·缩写·简称/444

参考文献/446
内容简介:
本书是作者多年从事电子工艺工作的经验总结。全书分上、下两篇。上篇（第1～6章）汇集了表面组装技术的54项核心工艺，从工程应用角度，全面、系统地对其应用原理进行了解析和说明，对深刻理解SMT的工艺原理、指导实际生产、处理生产现场问题有很大的帮助；下篇（第7～14章）精选了127个典型的组装失效现象或案例，较全面地展示了实际生产中遇到的各种工艺问题，包括由工艺、设计、元器件、PCB、操作、环境等因素引起的工艺问题，对处理现场生产问题、提高组装的可靠性具有非常现实的指导作用。本书编写形式新颖，直接切入主题，重点突出，是一本非常有价值的工具书，适合有一年以上实际工作经验的电子装联工程师使用，也可作为大学本科、高职院校电子装联专业师生的参考书。
作者简介:
贾忠中，中兴通讯股份有限公司首席工艺专家，从事电子制造工艺研究与管理工作近30年。在中兴通讯工作期间，见证并参与了中兴工艺的发展历程。历任工艺研究部部长、副总工艺师、总工艺师、首席工艺专家。担任广东电子学会SMT专委会副主任委员、中国电子学会委员。对SMT、可制造性设计、失效分析、焊接可靠性等有着深入、系统地研究，擅长组装不良分析、焊点失效分析。出版作品有：《SMT工艺质量控制》《SMT可制造性设计》《SMT工艺不良与组装可靠性》《SMT核心工艺解析与案例分析》（该书2010—2016年先后修订二次，第3版于2016年出版）等，发表论文多篇，被粉丝誉为“实战专家”。
目录:
第1 章表面组装技术基础/3

1.1 电子封装工程/3

1.2 表面组装技术/4

1.3 表面组装基本工艺流程/6

1.4 PCBA 组装方式/7

1.5 表面组装元器件的封装形式/10

1.6 印制电路板制造工艺/16

1.7 表面组装工艺控制关键点/24

1.8 表面润湿与可焊性/25

1.9 焊点的形成过程与金相组织/26

1.10 焊点质量判别/37

1.11 贾凡尼效应、电化学迁移与爬行腐蚀的概念/41

1.12 PCB 表面处理与工艺特性/45

第2 章工艺辅料/59

2.1 助焊剂/59

2.2 焊膏/65

2.3 无铅焊料/70

第3 章　核心工艺/74

3.1　钢网设计/74

3.2　焊膏印刷/80

3.3　贴片/90

3.4　再流焊接/91

3.5　波峰焊接/103

3.6　选择性波峰焊接/120

3.7　通孔再流焊接/126

3.8　柔性电路板组装工艺/128

3.9　烙铁焊接/130

第4 章　特定封装组装工艺/132

4.1　03015 组装工艺/132

4.2　01005 组装工艺/134

4.3 0201 组装工艺/139

4.4　0.4mm CSP 组装工艺/142

4.5　BGA 组装工艺/148

4.6　PoP 组装工艺/159

4.7　QFN 组装工艺/166

4.8　陶瓷柱状栅阵列元器件（CCGA）组装工艺要点/173

4.9　晶振组装工艺要点/174

4.10 片式电容组装工艺要点/175

4.11 铝电解电容膨胀变形对性能影响的评估/178

第5 章可制造性设计/179

5.1 重要概念/179

5.2 PCBA 可制造性设计概述/183

5.3 基本的PCBA 可制造性设计/188

5.4 PCBA 自动化生产要求/189

5.5 组装流程设计/194

5.6 再流焊接面元器件的布局设计/197

5.7 波峰焊接面元器件的布局设计/202

5.8 表面组装元器件焊盘设计/209

5.9 插装元器件孔盘设计/215

5.10 导通孔盘设计/216

5.11 焊盘与导线连接的设计/217

第6 章现场工艺/218

6.1 现场制造通用工艺/218

6.2 潮敏元器件的应用指南/219

6.3 焊膏的管理与应用指南/232

6.4 焊膏印刷参数调试/234

6.5 再流焊接温度曲线测试指南/237

6.6 再流焊接温度曲线设置指南/239

6.7 波峰焊接机器参数设置指南/243

6.8 BGA 底部加固指南/244

下　　篇　　生产工艺问题与对策

第7 章由工艺因素引起的焊接问题/251

7.1 密脚器件的桥连/251

7.2 密脚器件虚焊/253

7.3 空洞/254

7.4 元器件的侧立、翻转/267

7.5 BGA 虚焊/268

7.6 BGA 球窝现象/269

7.7 BGA 的缩锡断裂/272

7.8 镜面对贴BGA 缩锡断裂现象/275

7.9 BGA 焊点机械应力断裂/278

7.10 BGA 热重熔断裂/288

7.11 BGA 结构型断裂/290

7.12 BGA 焊盘不润湿/291

7.13 BGA 焊盘不润湿（特定条件：焊盘无焊膏）/292

7.14 BGA 黑盘断裂/293

7.15 BGA 返修工艺中出现的桥连/294

7.16 BGA 焊点间桥连/296

7.17 BGA 焊点与邻近导通孔锡环间桥连/297

7.18 无铅焊点表面微裂纹现象/298

7.19 ENIG 焊盘上的焊锡污染/299

7.20 ENIG 焊盘上的焊剂污染/300

7.21 锡球——特定条件：再流焊接工艺/301

7.22 锡球——特定条件：波峰焊接工艺/302

7.23 立碑/303

7.24 锡珠/305

7.25 0603 片式元件波峰焊接时两焊端桥连/306

7.26 插件元器件桥连/307

7.27 插件桥连——特定条件：安装形态（引线、焊盘、间距组成的环境）引起的/308

7.28 插件桥连——特定条件：掩模板开窗引起的/309

7.29 波峰焊接掉片/310

7.30 波峰焊接掩模板设计不合理导致的冷焊问题/311

7.31 PCB 变色但焊膏没有熔化/312

7.32 元器件移位/313

7.33 元器件移位——特定条件：设计/ 工艺不当/314

7.34 元器件移位——特定条件：较大尺寸热沉焊盘上有盲孔/315

7.35 元器件移位——特定条件：焊盘比引脚宽/316

7.36 元器件移位——特定条件：元器件下导通孔塞孔不良/317

7.37 元器件移位——特定条件：元器件焊端不对称/318

7.38 通孔再流焊接插针太短导致气孔/319

7.39 测试设计不当造成焊盘被烧焦并脱落/320

7.40 热沉元器件焊剂残留物聚集现象/321

7.41 热沉焊盘导热孔底面冒锡/322

7.42 热沉焊盘虚焊/324

7.43 片式电容因工艺引起的开裂失效/325

7.44 铜柱连接块开焊/326

第8 章由PCB 引起的问题/329

8.1 无铅HDI 板分层/329

8.2　再流焊接时导通孔“长”出黑色物质/330

8.3　波峰焊接点吹孔/331

8.4　BGA 拖尾孔/332

8.5　ENIG 板波峰焊接后插件孔盘边缘不润湿现象/333

8.6　ENIG 表面过炉后变色/335

8.7 ENIG 面区域性麻点状腐蚀现象/336

8.8 OSP 板波峰焊接时金属化孔透锡不良/337

8.9　喷纯锡对焊接的影响 /338

8.10 阻焊剂起泡/339

8.11 ENIG 镀孔压接问题/340

8.12 PCB 光板过炉（无焊膏）焊盘变深黄色/341

8.13　微盲孔内残留物引起BGA 焊点空洞大尺寸化/342

8.14　超储存期板焊接分层/343

8.15　PCB 局部凹陷引起焊膏桥连/344

8.16　BGA 下导通孔阻焊偏位/345

8.17　喷锡板导通孔容易产生藏锡珠的现象/346

8.18　喷锡板单面塞孔容易产生藏锡珠的现象/347

8.19　CAF 引起的PCBA 失效/348

8.20　元器件下导通孔塞孔不良导致元器件移位/350

8.21　PCB 基材波峰焊接后起白斑现象/351

8.22　BGA 焊盘下 PCB 次表层树脂开裂/354

8.23　导通孔孔壁与内层导线断裂/356

第9 章　由元器件电极结构、封装引起的问题 /359

9.1　银电极渗析/359

9.2　单侧引脚连接器开焊/360

9.3　宽引脚元器件焊点开焊/361

9.4　片式排阻虚焊（开焊）/362

9.5　QFN 虚焊/363

9.6　元器件热变形引起的开焊/364

9.7　Slug-BGA 的虚焊 /365

9.8　陶瓷板塑封模块焊接时内焊点桥连/366

9.9　全矩阵BGA 的返修—角部焊点桥连或心部焊点桥连/367

9.10　铜柱焊端的焊接—焊点断裂/368

9.11　堆叠封装焊接造成的内部桥连/369

9.12　手机EMI 器件的虚焊/370

9.13　F-BGA 翘曲/371

9.14　复合器件内部开裂—晶振内部/372

9.15　连接器压接后偏斜/373

9.16　引脚伸出PCB 太长，导致通孔再流焊接“球头现象”/374

9.17　钽电容旁元器件被吹走/375

9.18 灌封器件吹气/377

9.19　手机侧键内进松香/378

9.20 MLP（ Molded Laser PoP）的虚焊与桥连 /379

9.21 表贴连接器焊接动态变形/382

第10 章由设备引起的问题/384

10.1 再流焊接后PCB 表面出现异物/384

10.2 PCB 静电引起Dek 印刷机频繁死机/385

10.3 再流焊接炉链条颤动引起元器件移位/386

10.4 再流焊接炉导轨故障使单板被烧焦/387

10.5 贴片机PCB 夹持工作台上下冲击引起重元器件移位/388

10.6 钢网变形导致BGA 桥连/389

10.7 擦网纸与擦网工艺引起的问题/390

第11 章由设计因素引起的工艺问题/392

11.1 HDI 板焊盘上的微盲孔引起的少锡/ 开焊/392

11.2 焊盘上开金属化孔引起的虚焊、冒锡球/393

11.3 焊盘与元器件引脚尺寸不匹配引起开焊/395

11.4 测试盘接通率低/396

11.5 BGA 附近设计有紧固件，无工装装配时容易引起BGA 焊点断裂/397

11.6 散热器弹性螺钉布局不合理引起周边BGA 的焊点拉断/398

11.7 局部波峰焊接工艺下元器件布局不合理导致被撞掉/399

11.8 模块黏合工艺引起片式电容开裂/400

11.9 具有不同焊接温度需求的元器件被布局在同一面/401

11.10 设计不当引起片式电容失效/402

11.11 设计不当导致模块电源焊点断裂/403

11.12 拼板V 槽残留厚度小导致PCB 严重变形/405

11.13 0.4mm 间距CSP 焊盘区域凹陷/407

11.14 薄板拼板连接桥宽度不足引起变形/408

11.15 灌封PCBA 插件焊点断裂/409

11.16 机械盲孔板的孔盘环宽小导致PCB 制作良率低/410

11.17 面板结构设计不合理导致装配时LED 被撞/412

第12 章由手工焊接、三防工艺引起的问题/413

12.1 焊点表面残留焊剂白化/413

12.2 焊点附近三防漆变白/414

12.3 导通孔焊盘及元器件焊端发黑/415

第13 章操作不当引起的焊点断裂与元器件损伤/416

13.1 不当的拆连接器操作使得SOP 引脚被拉断/416

13.2 机械冲击引起的BGA 断裂/417

13.3 多次弯曲造成的BGA 焊盘被拉断/418

13.4 无工装安装螺钉导致BGA 焊点被拉断/419

13.5 散热器弹性螺钉引起周边BGA 的焊点被拉断/420

13.6 元器件被周转车导槽撞掉/421

第14 章腐蚀失效/422

14.1 常见的腐蚀现象/422

14.2 厚膜电阻/ 排阻硫化失效/424

14.3 电容硫化现象/426

14.4 PCB 爬行腐蚀现象/428

14.5 SOP 爬行腐蚀现象/430

14.6 Ag 有关的典型失效/435

附录A 国产SMT 设备与材料/439

A.1 国产SMT 设备的发展历程/439

A.2 SMT 国产设备与材料/441

附录B 术语·缩写·简称/444

参考文献/446

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SMT核心工艺解析与案例分析（第4版）

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