能量色散X射线荧光光谱/21世纪科学版化学专著系列

作者: 吉昂著

出版社: 科学出版社

出版时间: 2011-08

版次: 1

ISBN: 9787030320292

定价: 98.00

装帧: 精装

开本: 16开

纸张: 胶版纸

页数: 478页

字数: 620千字

正文语种: 简体中文

丛书: 21世纪科学版化学专著系列

分类: 教材教辅考试>教材>大学教材>工程技术

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《能量色散X射线荧光光谱》对现代能量色散和波长色散谱仪的性能作了较系统的比较，并对不同类型能量色散x射线荧光光谱在地质分析、电子电气产品中限用物质分析、文物分析和水泥原材料分析等领域的实际应用作了详细介绍。
《能量色散X射线荧光光谱》基本概念清晰、图文并茂，通过实例阐述基本知识，又以基本原理解释实验现象，力求使能量色散x射线荧光光谱工作者知其所以然。《能量色散X射线荧光光谱》可作为高等院校有关专业的教学用书，是从事x射线荧光光谱分析研究与应用人员和相关专业的研究者的一本有价值的参考书。吉昂，研究员，1962年毕业于兰州大学现代物理系原子能化学专业。1962年9月至1998年12月在中国科学院上海硅酸盐研究所从事分析化学工作，涉及化学分析、中子活化分析和X射线荧光光谱分析。其成果获中国科学院自然科学奖、中国科学院和上海市科技进步奖。曾任《分析化学》、《光谱学与光谱分析》等刊物编委。在国内外学术刊物上发表论文120余篇。主持并作为主要作者出版《无机非金属材料分析》和《X射线荧光光谱分析》等专著。前言
绪论能量色散和波长色散x射线荧光谱的比较
0.1概述
0.2wdxrf和edxrf谱仪色散方法
0.3用于wdxrf和edxrf比较的谱仪
0.4wdxrf和edxrf谱仪本身引起的谱线干扰
0.5检出限
0.6分辨率
0.7准确度和精密度
0.8分析时间
0.9edxrf和wdxrf谱仪比较小结
0.10edxrf和wdxrf谱仪合为一体的谱仪
参考文献
第一章x射线荧光光谱物理学基础
1.1x射线的本质和定义
1.2x射线与物质的相互作用
1.3莫塞莱（moseley）定律
1.4荧光产额
1.5谱线分数
参考文献

第二章激发和激发源
2.1x射线管
2.2原级谱激发
2.3二次靶激发
2.4放射性核素激发源
2.5同步辐射光源
2.6质子激发
参考文献

第三章探测器
3.1概述
3.2x射线探测器的主要技术指标
3.3能量探测器组成
3.4常用的探测器简介
参考文献

第四章能量色散x射线荧光光谱仪结构
4.1概述
4.2通用型和手持式edxrf谱仪测量单元
4.3微束edxrf谱仪测量单元
4.4偏振edxrf谱仪测量单元
4.5全反射edxrf谱仪测量单元
4.6测量单元中激发系统
4.7探测器
4.8记录单元
参考文献

第五章谱处理
5.1引言
5.2感兴趣区的设置和ka/kb强度比的应用
5.3基准谱在谱处理中的应用
5.4分析函数在谱处理中的应用
5.5偏最小二乘法
参考文献

第六章基体效应
6.1引言
6.2元素间吸收增强效应
6.3物理化学效应
参考文献

第七章元素间吸收增强效应的校正
7.1引言
7.2基本参数法
7.3理论影响系数法
7.4经验影响系数法
7.5基本参数法和影响系数法的比较
参考文献

第八章散射线在校正基体效应中的应用
8.1引言
8.2散射线校正吸收效应的基本原理
8.3散射线在基体校正中的应用
参考文献

第九章定性和半定量分析
9.1概述
9.2定性和半定量分析条件的设定
9.3定性分析步骤
9.4半定量分析的基本原理
9.5rhk。康普顿散射线的定量分析实例
9.6改善半定量分析结果准确度的方法
9.7结论
参考文献

第十章定量分析方法（1）——分析条件的设置
10.1概述
10.2取样和制样
10.3分析条件的选择
参考文献

第十一章定量分析方法（2）——校准曲线的制定
11.1概述
11.2校准曲线模式
11.3净强度
11.4校准曲线的制定
11.5定量分析方法的评价
11.6谱仪漂移校正
参考文献

第十二章定量分析（3）——镀层和薄膜材料分析
12.1概述
12.2常规定量分析方法在单层样分析中的应用
12.3基本参数法应用于多层镀膜分析
12.4三维共聚焦xrf谱仪用多层膜厚度分析
参考文献

第十三章xrf定量分析中不确定度评定
13.1引言
13.2名词术语
13.3测量结果的分布
13.4测量不确定度
13.5测量不确定度的报告
13.6计数统计误差和光子计数的不确定度
13.7异常数据的剔除
参考文献

第十四章xrf标准方法
14.1概述
14.2标准的分类
14.3我国标准的编号
14.4我国的xrf标准
14.5xrf国际标准
14.6标准物质
参考文献

第十五章样品制备
15.1概述
15.2固体块样的制备
15.3粉末和粉末压片的制备
15.4玻璃熔片的制备
15.5其他样品制备方法
参考文献

第十六章地质样品分析
16.1引言
16.2edxrf谱仪在地质样品现场分析中的应用
16.3edxrf谱仪在实验室分析中的应用
16.4μ-edxrf谱仪在地质分析中的应用
参考文献

第十七章电子电气产品中限用物质分析
17.1概述
17.2样品制备
17.3rolls筛选的方法
参考文献

第十八章文物分析
18.1引言
18.2edxrf谱仪在文物分析中的应用
18.3edxrf谱仪应用于古陶瓷断源、断代的必要条件
18.4小结
参考文献

第十九章水泥原材料分析
19.1引言
19.2分析对象
19.3基体效应
19.4样品制备
19.5测定条件
19.6校准曲线的制定
19.7精密度
19.8准确度
参考文献
附录
内容简介:
《能量色散X射线荧光光谱》对现代能量色散和波长色散谱仪的性能作了较系统的比较，并对不同类型能量色散x射线荧光光谱在地质分析、电子电气产品中限用物质分析、文物分析和水泥原材料分析等领域的实际应用作了详细介绍。
《能量色散X射线荧光光谱》基本概念清晰、图文并茂，通过实例阐述基本知识，又以基本原理解释实验现象，力求使能量色散x射线荧光光谱工作者知其所以然。《能量色散X射线荧光光谱》可作为高等院校有关专业的教学用书，是从事x射线荧光光谱分析研究与应用人员和相关专业的研究者的一本有价值的参考书。
作者简介:
吉昂，研究员，1962年毕业于兰州大学现代物理系原子能化学专业。1962年9月至1998年12月在中国科学院上海硅酸盐研究所从事分析化学工作，涉及化学分析、中子活化分析和X射线荧光光谱分析。其成果获中国科学院自然科学奖、中国科学院和上海市科技进步奖。曾任《分析化学》、《光谱学与光谱分析》等刊物编委。在国内外学术刊物上发表论文120余篇。主持并作为主要作者出版《无机非金属材料分析》和《X射线荧光光谱分析》等专著。
目录:
前言
绪论能量色散和波长色散x射线荧光谱的比较
0.1概述
0.2wdxrf和edxrf谱仪色散方法
0.3用于wdxrf和edxrf比较的谱仪
0.4wdxrf和edxrf谱仪本身引起的谱线干扰
0.5检出限
0.6分辨率
0.7准确度和精密度
0.8分析时间
0.9edxrf和wdxrf谱仪比较小结
0.10edxrf和wdxrf谱仪合为一体的谱仪
参考文献
第一章x射线荧光光谱物理学基础
1.1x射线的本质和定义
1.2x射线与物质的相互作用
1.3莫塞莱（moseley）定律
1.4荧光产额
1.5谱线分数
参考文献

第二章激发和激发源
2.1x射线管
2.2原级谱激发
2.3二次靶激发
2.4放射性核素激发源
2.5同步辐射光源
2.6质子激发
参考文献

第三章探测器
3.1概述
3.2x射线探测器的主要技术指标
3.3能量探测器组成
3.4常用的探测器简介
参考文献

第四章能量色散x射线荧光光谱仪结构
4.1概述
4.2通用型和手持式edxrf谱仪测量单元
4.3微束edxrf谱仪测量单元
4.4偏振edxrf谱仪测量单元
4.5全反射edxrf谱仪测量单元
4.6测量单元中激发系统
4.7探测器
4.8记录单元
参考文献

第五章谱处理
5.1引言
5.2感兴趣区的设置和ka/kb强度比的应用
5.3基准谱在谱处理中的应用
5.4分析函数在谱处理中的应用
5.5偏最小二乘法
参考文献

第六章基体效应
6.1引言
6.2元素间吸收增强效应
6.3物理化学效应
参考文献

第七章元素间吸收增强效应的校正
7.1引言
7.2基本参数法
7.3理论影响系数法
7.4经验影响系数法
7.5基本参数法和影响系数法的比较
参考文献

第八章散射线在校正基体效应中的应用
8.1引言
8.2散射线校正吸收效应的基本原理
8.3散射线在基体校正中的应用
参考文献

第九章定性和半定量分析
9.1概述
9.2定性和半定量分析条件的设定
9.3定性分析步骤
9.4半定量分析的基本原理
9.5rhk。康普顿散射线的定量分析实例
9.6改善半定量分析结果准确度的方法
9.7结论
参考文献

第十章定量分析方法（1）——分析条件的设置
10.1概述
10.2取样和制样
10.3分析条件的选择
参考文献

第十一章定量分析方法（2）——校准曲线的制定
11.1概述
11.2校准曲线模式
11.3净强度
11.4校准曲线的制定
11.5定量分析方法的评价
11.6谱仪漂移校正
参考文献

第十二章定量分析（3）——镀层和薄膜材料分析
12.1概述
12.2常规定量分析方法在单层样分析中的应用
12.3基本参数法应用于多层镀膜分析
12.4三维共聚焦xrf谱仪用多层膜厚度分析
参考文献

第十三章xrf定量分析中不确定度评定
13.1引言
13.2名词术语
13.3测量结果的分布
13.4测量不确定度
13.5测量不确定度的报告
13.6计数统计误差和光子计数的不确定度
13.7异常数据的剔除
参考文献

第十四章xrf标准方法
14.1概述
14.2标准的分类
14.3我国标准的编号
14.4我国的xrf标准
14.5xrf国际标准
14.6标准物质
参考文献

第十五章样品制备
15.1概述
15.2固体块样的制备
15.3粉末和粉末压片的制备
15.4玻璃熔片的制备
15.5其他样品制备方法
参考文献

第十六章地质样品分析
16.1引言
16.2edxrf谱仪在地质样品现场分析中的应用
16.3edxrf谱仪在实验室分析中的应用
16.4μ-edxrf谱仪在地质分析中的应用
参考文献

第十七章电子电气产品中限用物质分析
17.1概述
17.2样品制备
17.3rolls筛选的方法
参考文献

第十八章文物分析
18.1引言
18.2edxrf谱仪在文物分析中的应用
18.3edxrf谱仪应用于古陶瓷断源、断代的必要条件
18.4小结
参考文献

第十九章水泥原材料分析
19.1引言
19.2分析对象
19.3基体效应
19.4样品制备
19.5测定条件
19.6校准曲线的制定
19.7精密度
19.8准确度
参考文献
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